查詢 text:Appareils électroniques Essais. ,共 3 筆
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Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
- 作者: Nadeau-Dostie, Benoit.
- 出版: Boston : Kluwer Academic ©2000.
- 資料類型: 電子書
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A designer's guide to built-in self-test
- 作者: Stroud, Charles E.
- 出版: Boston : Kluwer Academic Publishers ©2002.
- 資料類型: 電子書
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Boundary-scan interconnect diagnosis
- 作者: Sousa, Jose T. de.
- 出版: Boston : Kluwer Academic Publishers ©2001.
- 資料類型: 電子書