查詢 text:"Digital integrated circuits Testing -- Standards." ，共 1 筆
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- 出版年
- 2003(1)
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- 語言
- 英語(1)
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- 作者
- Kapur, Rohit.(1)
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- 資料類型
- 電子書(1)
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CTL for test information of digital ICs
- 作者: Kapur, Rohit.
- 出版: Boston : Kluwer Academic Publishers 2003.
- 資料類型: 電子書