查詢 text:Semiconductor storage devices Testing. ，共 2 筆
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- 語言
- 英語(2)
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- 作者
- Adams, R. Dean.(1)
- Agrawal, Vishwani D.,(1)
- Bushnell, Michael L.(1)
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- 資料類型
- 電子書(2)
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10 0 0 0 0High performance memory testing :design principles, fault modeling, and self-test
- 作者: Adams, R. Dean.
- 出版: Boston : Kluwer Academic ©2003.
- 資料類型: 電子書
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8 0 0 0 0
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits
- 作者: Bushnell, Michael L.
- 出版: New York : Kluwer Academic ©2002.
- 資料類型: 電子書